| 专利名称 | 一种电荷耦合器件的电子增益倍数测量方法 | 申请号 | CN201410116526.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103852708A | 公开（授权）日 | 2014.06.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 王明富;任国强;刘非;周向东;马文礼 | 主分类号 | G01R31/26(2014.01)I | IPC主分类号 | G01R31/26(2014.01)I | 专利有效期 | 一种电荷耦合器件的电子增益倍数测量方法 至一种电荷耦合器件的电子增益倍数测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明是一种电荷耦合器件的电子增益倍数测量方法，包括步骤S1：利用电荷耦合器件的读出放大器的复位金属氧化物半导体管导通时，获取吸收浮置栅电容上储存的信号电子形成复位栅极微弱电流；步骤S2：通过纳安表检测读出放大器上复位金属氧化物半导体管的复位栅极微弱电流；步骤S3：根据复位栅极微弱电流计算出浮置栅电容上每个像素的平均电子总数，从而检测到被测相机的电子增益倍数。本发明旨在解决电荷耦合器件读出放大器的非线性特征及其产生的读出噪声将会增大电子增益倍数测量误差的问题，非常适合用于电荷耦合器件在电子增益标定过程中的电子增益倍数测量。 |
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