| 专利名称 | 基于高频脉冲逆散射成像的接地网状态检测方法 | 申请号 | CN201410078925.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103852695A | 公开（授权）日 | 2014.06.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 刘国强;李艳红;夏正武;刘宇 | 主分类号 | G01R31/11(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/11(2006.01)I;G01R27/26(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I | 专利有效期 | 基于高频脉冲逆散射成像的接地网状态检测方法 至基于高频脉冲逆散射成像的接地网状态检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于高频脉冲逆散射成像的接地网状态检测方法。该方法采用高频窄脉冲发射，通过发射天线将高频窄脉冲信号定向发送到地下接地网，信号经地下介质及接地网传播，在不同介质表面产生散射现象，由多个接收天线接收散射信号，采用多次覆盖的观测方法以提高分辨率，同时进行全波形采样，最终采用电磁逆散射成像方法，实现地下超浅层接地网及周围介质结构、电阻率和介电常数的图像重建。应用本发明所述方法的高频脉冲逆散射成像方法，可实现超浅层高分辨率的成像，并同时获得结构、电阻率和介电常数信息。 |
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