| 专利名称 | 数字集成电路自动测试系统 | 申请号 | CN201410074743.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103837824A | 公开（授权）日 | 2014.06.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 胡凯;杨海钢;徐春雨;曾宪理;王德利 | 主分类号 | G01R31/317(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/317(2006.01)I;G01R31/3181(2006.01)I | 专利有效期 | 数字集成电路自动测试系统 至数字集成电路自动测试系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种数字集成电路自动测试系统，该系统由被测芯片、测试接口板、集成模块、测试模块、控制模块、显示模块及上位机组成；控制模块与上位机连接；测试模块与控制模块连接；被测芯片的管脚与测试接口板相连接；测试接口板与测试模块连接；集成模块连接测试模块、上位机；显示模块与控制模块连接，借助上位机软件显示最终比较后的波形，从而完成芯片功能和性能的自动测试。该系统成本低，在实验室条件下易于实现，且系统操作简便，开发速度快，可满足小批量产品测试需求；该系统通过自动测试，解决了手动测试中测试项目较多带来的操作复杂问题，提高了测试效率，避免手动测试时由于人为原因产生的误判，提高了测试质量。 |
1、源头对接，价格透明
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