| 专利名称 | 一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置 | 申请号 | CN201410078836.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103822713A | 公开（授权）日 | 2014.05.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 王建威;吕群波;裴琳琳;刘扬阳;张丹丹;钱路路;马原 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置 至一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 |
本发明公开了一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置，其中，所述方法包括：将两束波长不同、带宽相同的单色光耦合后输入所述光谱成像仪；调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽，并获取所述光谱成像仪的输出信号，对所述输出信号拟合处理得到信号的极大值和极小值，当所述极大值和所述极小值满足瑞利判据时，确定当前所述两束单色光的中心波长间隔Δλ以及半高宽dλ；根据 |
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