| 专利名称 | 单光源双波长激光诱导击穿光谱测量装置 | 申请号 | CN201320642799.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203606283U | 公开（授权）日 | 2014.05.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 李新忠;汤洁;王屹山;赵卫;段忆翔 | 主分类号 | G01N21/63(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/63(2006.01)I | 专利有效期 | 单光源双波长激光诱导击穿光谱测量装置 至单光源双波长激光诱导击穿光谱测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种单光源双波长激光诱导击穿光谱测量装置。该装置主要包括脉冲激光器、倍频晶体、分光镜、第一全反射镜、第二全反射镜、光快门、光谱仪、同步延迟控制器；脉冲激光器产生的激光通过倍频晶体后分为基频光和倍频光，照射在分光镜上；倍频光经所述第一全反射镜反射后垂直照射于待测样品的表面；基频光经过所述光快门、然后被所述第二全反射镜反射后平行照射在待测样品表面的上方1-5mm处；待测样品被激发出的等离子体产生的光谱信号会聚至光纤收集头，传送至光谱仪。本实用新型在实现双脉冲LIBS高探测灵敏度的同时，还具有结构简单、体积紧凑、价格低廉的优点，可广泛应用于激光诊断和光谱分析技术领域。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障