| 专利名称 | 一种测试FPGA的装置与方法 | 申请号 | CN201210427357.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103792487A | 公开（授权）日 | 2014.05.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 王飞;杨海钢 | 主分类号 | G01R31/317(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/317(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测试FPGA的装置与方法 至一种测试FPGA的装置与方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种测试FPGA的装置与方法。该测试FPGA的装置位于FPGA芯片内，包括：自测试控制器，用于按照预设时序生成地址生成信号和回读使能信号；地址生成器，用于在地址生成信号的驱动下，生成遍历被测试的FPGA配置阵列的地址，并使该地址对应的FPGA配置阵列处于相应的读写状态；数据生成器，用于在回读使能信号的作用下，对于由地址生成器提供的每一个地址，依据该地址，首先从FPGA配置阵列读取配置数据，对该配置数据进行变换形成一组新的测试配置数据，然后将新产生的测试配置数据重新写回至FPGA配置阵列的该地址。本发明减少了从芯片外部串行加载测试配置的次数，提升了测试效率，降低了测试成本。 |
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