| 专利名称 | 一种太赫兹量子阱探测器绝对响应率的标定方法及装置 | 申请号 | CN201410066672.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103776547A | 公开（授权）日 | 2014.05.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 谭智勇;曹俊诚;顾立;朱永浩 | 主分类号 | G01J5/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/20(2006.01)I | 专利有效期 | 一种太赫兹量子阱探测器绝对响应率的标定方法及装置 至一种太赫兹量子阱探测器绝对响应率的标定方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种太赫兹量子阱探测器绝对响应率的标定方法及装置，所述装置至少包括：驱动电源、单频激光源、光学镜、太赫兹阵列探测器、太赫兹功率计、电流放大器及示波器。所述标定方法采用功率可测定的单频激光源作为标定光源，得到探测器在该激光频率处的绝对响应率参数，利用探测器的归一化光电流谱可进一步计算得到探测器在其任意可探测频率处的绝对响应率参数。本发明直接采用周期输出的单频激光源作为标定光源，采用太赫兹阵列探测器和功率计直接测量来获得被标定探测器的入射功率，极大地减小了传统标定方法中背景光、水汽吸收的影响，避免了各种谱积分的复杂计算，整个标定过程简单，引入误差小，具有广泛适用性。 |
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