| 专利名称 | 嵌入式系统存储器的测试结构 | 申请号 | CN201320761742.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203573309U | 公开（授权）日 | 2014.04.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院嘉兴微电子与系统工程中心 | 发明（设计）人 | 周美娣;何文涛;殷明;黄璐;冯华星 | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 专利有效期 | 嵌入式系统存储器的测试结构 至嵌入式系统存储器的测试结构 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种嵌入式系统存储器的测试结构，内嵌于SoC芯片，包括CPU、控制器、系统总线、SPI接口和多路选择器。其中，CPU通过系统总线与SoC芯片中的存储器阵列相连；控制器通过SPI接口与外部测试机相连；多路选择器的一个输入端与系统总线相连，另一个输入端连接控制器，输出端连接到零位SRAM；SPI接口是SPI?Slave外部接口，其和外部测试机之间具有4个接线。本实用新型通过使用嵌入式的CPU，实现了对SoC芯片中的存储器阵列的基于软件的测试；而SPI接口实现简单，接线少，通信速率高，由此节省了测试时间。 |
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