| 专利名称 | 一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法 | 申请号 | CN201310719657.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103760416A | 公开（授权）日 | 2014.04.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 发明（设计）人 | 王茂 | 主分类号 | G01R25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法 至一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法，包括以下步骤：（1）根据微波传输线理论，由简化信号流图的分析，得到测量相位与实际相位之间的关系式。（2）根据（1）中得到的关系式，通过编写程序来分析计算，获得量化的相位误差大小。（3）通过误差分析，可以指导我们进行硬件系统的优化，最大限度地减小误差。本发明为TOKMAK装置高功率微波系统的相位测量误差进行了分析，得到影响相位测量误差的因素，在简化信号流图分析的基础上，得到高功率微波相位测量误差的表达式，通过关系式由计算程序来分析测量的误差，最后获得相位测量误差与方向性系数以及电长度和反射系数的关系。 |
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