| 专利名称 | 艾里光束加速曲线的测量方法 | 申请号 | CN201410002629.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103743480A | 公开（授权）日 | 2014.04.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 范永涛;魏劲松;王睿 | 主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | 专利有效期 | 艾里光束加速曲线的测量方法 至艾里光束加速曲线的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种艾里光束加速曲线测量方法，采用平行激光束经过一个二元位相器件，该位相器件上的位相分布是产生待测艾里光束的连续位相二元化后的结果，而后光束经过一个傅立叶透镜，在焦平面后方同时产生两束具有相对的加速度的艾里光束，在光束传播方向上的任意截面内，采用安装在一维线性位移台上的面阵光电传感器测量两路艾里光束的主极大之间的间距，该间距除以2为单艾里光束的加速位移，根据不同位置处得到单艾里光束的加速位移和位移台沿光轴方向的位移，实现准确测量艾里光束加速曲线。本艾里光束加速曲线测量方法具有易于操作、测量准确度高、数据处理简单等多项特点。 |
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