| 专利名称 | 双向多步De Bruijn图的错误双向边识别与去除方法 | 申请号 | CN201310672170.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103714263A | 公开（授权）日 | 2014.04.09 | 申请（专利权）人 | 深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 孟金涛;张慧琳;彭丰斌;魏彦杰;冯圣中 | 主分类号 | G06F19/10(2011.01)I | IPC主分类号 | G06F19/10(2011.01)I | 专利有效期 | 双向多步De Bruijn图的错误双向边识别与去除方法 至双向多步De Bruijn图的错误双向边识别与去除方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种双向多步De?Bruijn图的错误双向边识别与去除方法，包括步骤，S1、读取测序数据源文件，并构造双向多步De?Bruijn图；S2、统计整个所述双向多步De?Bruijn图的所有双向边的加权平均覆盖度W；S3、遍历整个所述双向多步De?Bruijn图的所有边，将覆盖度小于平均覆盖度W的0.25倍的双向边确定为错误双向边，并将其去除。本发明可以部分清除De?Bruijn图中普遍存在的错误，上述错误包括错误链接、Tip型错误、泡型错误；将使contigs可以继续延长，De?Bruijn图继续收缩；可以有效的发现错误的双向边，而且避免对正确的双向边的破坏，从而可以一定程度上提高contigs的长度，提高contig的质量。 |
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