| 专利名称 | 无接触式低温磁输运测试的样品杆 | 申请号 | CN201320623628.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203535204U | 公开（授权）日 | 2014.04.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 徐勇刚;俞国林;吕蒙;常志刚;林铁;戴宁;褚君浩 | 主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | 专利有效期 | 无接触式低温磁输运测试的样品杆 至无接触式低温磁输运测试的样品杆 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种无接触式低温磁输运测试的样品杆，它用于深低温强磁场下对固体材料电学性质进行微波测量。样品杆由头顶盒、波导管、引线管、同轴电缆及转接口、测试引线及插座、支架盘片、底部固定架和谐振腔等组成，其主要特征在于同时将波导管和同轴电缆引入样品杆内，波导管将微波导入到可放置样品的谐内腔内，同轴电缆接收反射出来的微波，从而实现对固体材料电学性质的微波测量。波导管和引线管选用高强度、低热导率的钛金属材料，实现了样品温度在极低温下的稳定。该系统为深低温强磁场中固体材料电学性质的微波测量提供了有力的研究工具。 |
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