| 专利名称 | 一种微阵列点样装置 | 申请号 | CN201410018076.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103712956A | 公开（授权）日 | 2014.04.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所 | 发明（设计）人 | 许吉英;陈义 | 主分类号 | G01N21/55(2014.01)I | IPC主分类号 | G01N21/55(2014.01)I | 专利有效期 | 一种微阵列点样装置 至一种微阵列点样装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提出一种微阵列点样装置，包括点样单元、基片固定调节单元和微量样品存储及输送单元。本发明易于构建，操作简便，可以制备各种可寻址微点阵、微条阵。由于点样针与待点样基片不接触，对点样针和待点样基片无损伤，特别适合于制作表面等离子体共振成像用的纳米级厚度的传感膜芯片。 |
1、源头对接，价格透明
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