| 专利名称 | 双向多步De Bruijn图的自环双向边识别与去除方法 | 申请号 | CN201310672187.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103699817A | 公开（授权）日 | 2014.04.02 | 申请（专利权）人 | 深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 孟金涛;张慧琳;彭丰斌;魏彦杰;冯圣中 | 主分类号 | G06F19/20(2011.01)I | IPC主分类号 | G06F19/20(2011.01)I | 专利有效期 | 双向多步De Bruijn图的自环双向边识别与去除方法 至双向多步De Bruijn图的自环双向边识别与去除方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种双向多步De?Bruijn图的自环双向边识别与去除方法，包括步骤，S1、读取测序数据源文件，并构造双向多步De?Bruijn图；S2、设定所述双向多步De?Bruijn图中的每个顶点u的数据结构，对所述双向多步De?Bruijn图自环双向边的识别；S3、对所述双向多步De?Bruijn图自环双向边的去除。本发明技术效果包括（1）面向多步双向De?Bruijn图；（2）根据自环双向边的目标节点以及自环双向边的目标节点方向来识别区分自环双向边；（3）根据自环双向边的目标节点方向，采取不同的自环双向边的去除方法；（4）可以有效的发现错误的双向边，而且避免对正确的双向边的破坏，从而提高contigs的长度，更重要的是能够同步提高contig的质量。 |
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