| 专利名称 | 一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法 | 申请号 | CN201310740527.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103698764A | 公开（授权）日 | 2014.04.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 李道京;李烈辰 | 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | 专利有效期 | 一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法 至一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法，其包括：S1：在获取回波信号时，在方位向对回波信号进行稀疏采样；S2：对主天线的回波信号进行距离脉冲压缩和距离徙动校正；S3：对副天线的回波信号进行二维成像获得副天线图像；S4：将副天线图像的相位作为参考相位，去除每个散射单元的初始相位；步骤S5：在频域引入压缩感知理论，对每个距离门的信号建立时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像和傅里叶系数之间关系的模型；S6：采用基于l1范数的最优化方法，利用时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像、傅里叶系数之间的关系模型，获得每个距离门复图像在傅里叶基矩阵下的傅里叶系数，反变换组合获得二维合成孔径雷达复图像。 |
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