| 专利名称 | 一种获取稀疏微波成像雷达信噪比和采样比的方法 | 申请号 | CN201410019317.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103698755A | 公开（授权）日 | 2014.04.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 吴一戎;洪文;赵曜;张冰尘 | 主分类号 | G01S7/41(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/41(2006.01)I | 专利有效期 | 一种获取稀疏微波成像雷达信噪比和采样比的方法 至一种获取稀疏微波成像雷达信噪比和采样比的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种获取稀疏微波成像雷达信噪比和采样比的方法，包括步骤如下：步骤S1：建立稀疏微波成像雷达回波模型；步骤S2：依据回波模型中的稀疏目标信号的稀疏度，构建稀疏微波成像雷达采样比模型；步骤S3：依据场景稀疏度和采样比，构建所需的稀疏微波成像雷达信噪比模型；步骤S4：依据信噪比模型，得到稀疏重建的正则化参数；步骤S5：根据稀疏微波成像雷达回波模型和设定的参数范围，利用L1正则化算法，对稀疏目标信号进行稀疏重建，得到稀疏重建的稀疏目标信号。 |
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