| 专利名称 | 超导量子干涉传感器的标定设备及标定方法 | 申请号 | CN201310694313.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103675744A | 公开（授权）日 | 2014.03.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 张树林;孔祥燕;邱阳;李华;谢晓明 | 主分类号 | G01R35/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R35/00(2006.01)I | 专利有效期 | 超导量子干涉传感器的标定设备及标定方法 至超导量子干涉传感器的标定设备及标定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种超导量子干涉传感器的标定设备及标定方法。所述标定设备包括：在三个正交的维度方向设置线圈，各所述线圈所围空间中的磁场均匀区域用于放置所述超导量子干涉传感器；与每个维度方向的线圈相连的信号发生器，用于向各所述线圈输出驱动电流，以使各所述线圈产生电压；与所述超导量子干涉传感器和所述信号发生器相连的标定分析装置，用于根据每个维度方向的线圈的电压及所述超导量子干涉传感器所输出的感应信号来标定所述超导量子干涉传感器的磁场电压转换系数。基于三维投影原理，有效地避免了传统单一方向标定带来的方向和位置校准问题。 |
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