| 专利名称 | 一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法 | 申请号 | CN201310611442.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103675733A | 公开（授权）日 | 2014.03.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 | 发明（设计）人 | 刘朝阳;宋侃;鲍庆嘉;陈黎;刘造 | 主分类号 | G01R33/3875(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/3875(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法 至一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法，采用梯度回波脉冲序列测量空间磁场的不均匀像，并以此拟合表征当前磁场均匀性的虚拟谱图线形及其相关性能指标；根据匀场线圈所构建的多维空间向量，将虚拟谱图线形的相关性能指标作为得到的磁场均匀性好坏的评价标准，依据此评价标准进行多维下降单纯形法迭代搜索，并最终返回最优匀场电流。本发明在匀场过程中能充分考虑频谱的半高宽和对称性等性能指标；同时，和常规的采用梯度回波成像技术的梯度匀场相比，本匀场技术不必考虑匀场线圈场图的测量和拟合，降低了通过梯度成像来匀场的难度和限定要求；自动拟合搜索步径和收敛条件摆脱了繁琐的手动设置、提高了匀场的速度和效率。 |
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