| 专利名称 | CT探测器偏转角的确定方法和装置 | 申请号 | CN201310582495.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103654833A | 公开（授权）日 | 2014.03.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院过程工程研究所 | 发明（设计）人 | 孟凡勇;李忠传;李静海 | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/03(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I;H05G1/26(2006.01)I | 专利有效期 | CT探测器偏转角的确定方法和装置 至CT探测器偏转角的确定方法和装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种CT探测器偏转角的确定方法和装置。所述方法包括：使用待测CT对被测物体进行全周扫描，获取被测物体的边缘投影点在探测器阵列中的第一极限位置D1和第二极限位置D2；以待测CT的旋转中心投影点COR在探测器阵列中的位置D0为原点，以探测器阵列所在直线为X轴，建立坐标系，计算D1的X轴坐标值q1和D2的X轴坐标值q2；计算待测CT的射线源焦点与D0之间的距离RD；根据RD、q1和q2，确定所述待测CT的探测器偏转角γ。本发明实现了无需使用专用的校正模体，仅通过直接扫描被测物体，并对采集的原始数据进行简单的运算，即可快速而精确的确定待测CT的探测器偏转角的技术效果。 |
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