| 专利名称 | 激光雷达探测光源发散角测量装置与方法 | 申请号 | CN201310713857.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103645471A | 公开（授权）日 | 2014.03.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 董云升;张天舒;陆亦怀;刘建国;刘文清;赵南京;范广强 | 主分类号 | G01S7/497(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/497(2006.01)I | 专利有效期 | 激光雷达探测光源发散角测量装置与方法 至激光雷达探测光源发散角测量装置与方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种激光雷达探测光源发散角测量装置与方法，主要应用于激光雷达发射系统调校过程中，对扩束后的探测光发散角进行测评和调整。装置主要由探测光源、光学升降台、准直望远镜、可升降光学调整架、可调谐双狭缝光阑、光阑、高精密平移平台、光功率计等部件组成。装置设计了可调谐双狭缝光阑，双狭缝光阑将被测光源的发射光束整形为双光束，仅需测量双光束的离散程度，就可以测得光束的发散角，不需要测量整个光斑光强分布，从而实现对不同直径的激光雷探测光源光束的发散角进行测量，该装置与方法可测量最小光束直径为2mm，最大光束直径为400mm，可以实现0.01mrad光束发散角的测量。 |
1、源头对接，价格透明
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