| 专利名称 | 一种超短电子脉冲脉宽测量装置 | 申请号 | CN201320539918.4 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203479913U | 公开（授权）日 | 2014.03.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 王超;田进寿;赵卫;白永林 | 主分类号 | G01R29/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R29/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种超短电子脉冲脉宽测量装置 至一种超短电子脉冲脉宽测量装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型属于超快诊断领域，尤其涉及一种超短电子脉冲脉宽测量装置。包括俄歇靶材、待测电子脉冲、载波包络相位锁定的疏周期超强近红外飞秒脉冲源及电子能谱探测分析系统；近红外飞秒脉冲源所发出的脉冲与待测电子脉冲入射在俄歇靶上的同一空间点；待测电子脉冲通过俄歇靶材电离出俄歇电子脉冲；电子能谱探测分析系统可接收电离出的俄歇电子脉冲，通过俄歇电子的二维电子能谱图即可重建出俄歇电子脉冲的时域轮廓；将此时域轮廓分布与俄歇靶材的俄歇过程进行反卷积运算，即得出待测电子脉冲的时域轮廓，进而得出待测电子脉冲脉宽。本实用新型提供了一种可以测量脉宽的超短电子脉冲脉宽测量装置。 |
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