| 专利名称 | 超导量子干涉器件的特性扫描装置 | 申请号 | CN201320625213.4 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203480013U | 公开（授权）日 | 2014.03.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 王永良;徐小峰;孔祥燕;谢晓明 | 主分类号 | G01R35/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R35/00(2006.01)I;G01R33/035(2006.01)I | 专利有效期 | 超导量子干涉器件的特性扫描装置 至超导量子干涉器件的特性扫描装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型提供一种超导量子干涉器件的特性扫描装置。本实用新型所述装置包括：基于互感原理输出变化电压信号并向超导量子干涉器件提供高频交流扫描磁场环境的扫描磁通加载单元；与所述超导量子干涉器件的供电端相连、且提供变化的偏置电流的偏置电压发生单元；与所述超导量子干涉器件的输出端相连的放大滤波单元；与所述偏置电压发生单元和所述放大滤波单元相连的特性曲线生成单元，用于将所述偏置电压发生单元所提供的变化的偏置电流与所述放大滤波单元所输出的感应信号幅度描绘成磁通电压转换强度与偏置电流关系的特性曲线。本实用新型能够直接利用该特性曲线来确定所述超导量子干涉器件的磁通转换的情况，并判断超导量子干涉器件的性能好坏，依此筛选出合格的所述超导量子干涉器件。 |
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