| 专利名称 | 日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置 | 申请号 | CN201310603534.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103616162A | 公开（授权）日 | 2014.03.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 周跃;崔穆涵;陈雪;章明朝;闫丰;隋永新 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置 至日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置，涉及滤光片参数测试技术领域，解决带外深度截止滤光片的截止深度无法测试的问题，包括：光源；暗箱，位于所述光源前方，侧面设置有入光口；孔径光阑，位于所述入光口和所述光源之间，用来控制进入所述入光口的光能量；滤光片盒与衰减片盒，位于所述暗箱内部，分别用来盛放滤光片与衰减片，其中所述衰减片盒中按照多片级联V形布局的衰减片槽可使每排所述衰减片相互垂直；光电倍增管，位于所述暗箱内部并与所述入光口同轴放置，所述光电倍增管与探测装置共同组成的光电探测器用于探测所述光源通过所述滤光片和所述衰减片的输出电信号，本发明结构简单易于操作。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障