| 专利名称 | 一种保持光学测试样品处于低温状态的装置 | 申请号 | CN201320362307.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203455157U | 公开（授权）日 | 2014.02.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 贺香荣;汪洋;张亚妮;陈安森;庄馥隆 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种保持光学测试样品处于低温状态的装置 至一种保持光学测试样品处于低温状态的装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种保持光学测试样品处于低温状态的装置，该装置包括箱体、上盖板、金属环、冷头、加热片、测温元件。箱体的上部通过螺纹与上盖板连接，在箱体的右侧安装气体输入管接头和气体输出管接头。金属环嵌在冷头上部的凹槽中。冷头锡焊在箱体圆柱形空腔底部的中央处，在冷头侧面安装液氮导进管和液氮导出管。加热片和测温元件用低温胶粘在冷头的侧面，其导线从箱体正面引出。测试时，样品由金属环固定在冷头上，通过液氮导进管输入液氮，使样品处于低温状态。加热片及测温元件控制样品处于某一恒定的温度。本装置的优点是通过向箱体侧面的气体输入管通入氮气使箱体内形成氮气保护的气氛，是一种保持光学测试样品处于低温状态的装置。 |
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