| 专利名称 | 基于双色探测器的双衍射级次共路探测光栅光谱仪 | 申请号 | CN201310521239.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103592028A | 公开（授权）日 | 2014.02.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 方伟;张浩 | 主分类号 | G01J3/427(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/427(2006.01)I | 专利有效期 | 基于双色探测器的双衍射级次共路探测光栅光谱仪 至基于双色探测器的双衍射级次共路探测光栅光谱仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 基于双色探测器的双衍射级次共路探测光栅光谱仪属于光谱分析仪器领域，该光电接收器由两片不同响应波段的光电探测器同轴叠层制作而成，两片探测器使用同一光学窗口；该光栅单色仪同时使用一级和二级衍射光作为有效工作级次，光电探测器同时、分别接收对应的一级和二级衍射光。本发明仅通过光电探测器与光栅双衍射级次的匹配实现宽光谱、高衍射效率的光谱信号探测，提高了光能利用率，降低了光谱仪的整体偏振灵敏性；光电探测器避免了额外分色元件的使用，简化了光路、缩减了仪器体积；缩短了扫描时间；使用一片光栅，提高了稳定性、减少了光栅使用数目，降低了成本。 |
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