| 专利名称 | 一种大口径非球面主镜二次常数测量装置与方法 | 申请号 | CN201310554441.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103557791A | 公开（授权）日 | 2014.02.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 吴永前;黄传科;范斌;张永红 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I;G01B11/255(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种大口径非球面主镜二次常数测量装置与方法 至一种大口径非球面主镜二次常数测量装置与方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明大口径非球面主镜二次常数的测量装置与方法，包括相移干涉仪、激光跟踪仪、准直平面镜；相位干涉仪的标准镜头的焦点位于被测非球面主镜的曲率中心位置处；激光跟踪仪的靶球放置在相移干涉仪的标准镜头的焦点处，用激光跟踪仪和靶球获得曲率中心的坐标、将靶球移至被测非球面主镜的中心孔边缘获得靶球的坐标和半径，计算得被测非球面主镜的顶点的曲率半径；在被测非球面主镜前方放置准直平面镜，移动相移干涉仪至被测非球面主镜的焦点处，由激光跟踪仪和靶球获得被测非球面主镜的焦点的坐标，根据曲率中心的坐标和被测非球面主镜的焦点的坐标，获得被测非球面主镜的曲率中心到被测非球面主镜的焦点的距离，计算出被测非球面主镜的二次常数。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障