| 专利名称 | 一种使用射频加热的桶式CVD设备反应室 | 申请号 | CN201310437339.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开(公告)号 | CN103540914A | 公开(授权)日 | 2014.01.29 | 申请(专利权)人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明(设计)人 | 王劼;张立国;范亚明;张洪泽 | 主分类号 | C23C16/46(2006.01)I | IPC主分类号 | C23C16/46(2006.01)I | 专利有效期 | 一种使用射频加热的桶式CVD设备反应室 至一种使用射频加热的桶式CVD设备反应室 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种使用射频加热的桶式CVD设备反应室,包括:具有双层管状结构的水冷壁,该水冷壁的内管腔中设有反应室,而内、外管之间至少与该反应室相应的区域内分布有冷却介质容置腔;设于该反应室内的加热基座,且该加热基座上分布有若干凹槽;分布于该加热基座与水冷壁内管之间的整流罩;至少绕设在该水冷壁外壁上与该反应室相应区域内的感应线圈。本发明通过采用桶式结构的反应室,可以满足多片晶片同时生长,而通过采用射频感应加热,同时有直接热传导和辐射加热,提高了晶片温度分布的均匀性,尤其是对于大尺寸的晶片来说,加热不受反应室直径大小的限制,加热速度快、效率高、温度高、加热状态稳定,适合在大尺寸的高温CVD反应室中使用。 |
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