| 专利名称 | 氧化锡电极微量杂质元素Fe和Cu的分析方法 | 申请号 | CN201310450146.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103543141A | 公开（授权）日 | 2014.01.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 徐永春;邹兆松;胡丽丽 | 主分类号 | G01N21/73(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/73(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 专利有效期 | 氧化锡电极微量杂质元素Fe和Cu的分析方法 至氧化锡电极微量杂质元素Fe和Cu的分析方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种氧化锡电极微量杂质元素Fe和Cu的分析方法，采用电感耦合等离子体原子发射光谱法，通过样品处理、实验条件、标准溶液配制、绘制工作曲线、测试、计算，得到氧化锡电极中微量杂质元素Fe和Cu的百分含量，本发明具有操作易、分析速度快、测量精度高的特点，满足了准确测量氧化锡电极中微量杂质元素Fe和Cu含量的需求。 |
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