| 专利名称 | 一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及测量方法 | 申请号 | CN201310512524.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103528952A | 公开（授权）日 | 2014.01.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 赵欣;桂华侨;余同柱 | 主分类号 | G01N21/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及测量方法 至一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及方法，包括：温度探测器，用于探测气体测量仪表面温度；帕尔贴制冷元件，与光路底部外壳相接触，用于调整仪器外壳温度；装有红外滤光片的码盘，所述码盘周长边沿刻有等间距排列的狭缝，所述码盘在测量气体的转动过程中，通过狭缝产生斩波信号，用于同步触发A/D模块采集温度探测器上的信号；基于DSP和CPLD的温控电路，根据所述码盘转动的同步信号，采集所述温度探测器的温度数据，产生脉宽调制信号（PMW）驱动帕尔贴元件制冷；同时根据所述温度数据进行运算处理，产生WPL通量校准项，对通量进行实时校准。本发明通过实时温差数据计算出WPL通量校准项，可进一步提高气体分析仪的测量精度和稳定性。 |
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