| 专利名称 | 一种测定样品浊点的方法 | 申请号 | CN201310505206.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103529069A | 公开（授权）日 | 2014.01.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 发明（设计）人 | 莫高明;张若愚;王艳菲;杨建行 | 主分类号 | G01N25/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测定样品浊点的方法 至一种测定样品浊点的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种测定样品浊点的方法。该方法利用集成CCD相机的显微镜观察拍摄测试样品在不同温度下的数字图像，通过测定各数字图像的平均灰度值而计算出所对应温度下该样品的光学透过率，该光学透过率随温度的变化线中光学透过率开始下降处所对应的温度即为该样品的浊点。与现有的测定样品浊点的目测法相比，该方法在测定样品浊点时能够很大程度上减小由于人眼观测而造成的误差，提高了测试结果的准确性。 |
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