| 专利名称 | 塞贝克系数测量系统 | 申请号 | CN201210213904.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103512914A | 公开（授权）日 | 2014.01.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 崔大付;蔡浩原;李亚亭;陈兴;张璐璐;孙建海;任艳飞 | 主分类号 | G01N25/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/20(2006.01)I | 专利有效期 | 塞贝克系数测量系统 至塞贝克系数测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种赛贝克系数测量系统，包括：测试样品平台，用于放置待测样品，并在待测样品两端建立预设的温度差，包括：温差加热台，包括温差加热台本体、热端加热柱和冷端加热柱，其中，热端加热柱和冷端加热柱位于温差加热台本体上，两者之间彼此绝热，分别具有各自的加热系统；热端样品放置台和冷端样品放置台，分别位于热端加热柱和冷端加热柱的上方，用于放置待测样品的热端和冷端；信号采集和处理系统，用来计算贝塞尔系数；温度控制系统，用来控制待测样品两端的温度差。本发明的赛贝克系数测量系统可以实现样品的正负温差测量。 |
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