| 专利名称 | 一种全极化微波辐射计定标装置及其定标方法 | 申请号 | CN201310467040.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103512606A | 公开（授权）日 | 2014.01.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 李彬;王振占;陆浩;王新彪 | 主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种全极化微波辐射计定标装置及其定标方法 至一种全极化微波辐射计定标装置及其定标方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种全极化微波辐射计定标装置，包括定标热源、定标冷源、极化分离器以及相位发生器；其中，定标热源位于水平面或垂直面上，定标冷源所在的平面与所述定标热源所在的平面垂直；所述极化分离器位于所述定标冷源与定标热源之间且其与水平面成45度角；所述相位发生器所在的平面与所述极化分离器所在的平面成一定的角度。本发明有效降低了系统误差与随机误差，大大减少了定标不确定度。 |
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