| 专利名称 | 一种激光跟踪仪测量双曲面镜参数的装置及方法 | 申请号 | CN201310492267.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103499310A | 公开（授权）日 | 2014.01.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 范斌;闫锋涛;吴永前;侯溪;陈强;万勇建;伍凡 | 主分类号 | G01B11/255(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/255(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种激光跟踪仪测量双曲面镜参数的装置及方法 至一种激光跟踪仪测量双曲面镜参数的装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种激光跟踪仪测量双曲面镜参数的装置及方法，包括激光跟踪仪，干涉仪，被测双曲面镜及辅助球面镜，激光跟踪仪配合随机配送靶球测量空间点位置坐标，干涉仪发出的波面经双曲面镜反射后，成为标准的球面波，标准的球面波经过辅助球面镜反射后，光波原路返回，对双曲面镜进行无像差点检测，在干涉仪以对双曲面镜进行无像差点检测的同时，利用激光跟踪仪配合靶球测量出干涉仪焦点空间位置坐标、辅助镜球心位置坐标，双曲面镜顶点坐标，最后通过这些空间位置坐标关系求得双曲面镜参数；本发明对双曲面镜的参数控制及研制提供了一种有效的检测手段，具有较大的应用价值。 |
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