| 专利名称 | 一种测试数据压缩方法、数据解压缩装置及解压缩方法 | 申请号 | CN201310438999.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103499787A | 公开（授权）日 | 2014.01.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 涂吉;王子龙;李立健 | 主分类号 | G01R31/3187(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/3187(2006.01)I;G01R31/3183(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测试数据压缩方法、数据解压缩装置及解压缩方法 至一种测试数据压缩方法、数据解压缩装置及解压缩方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种确定性自测试的测试数据压缩方法、数据解压缩装置和数据解压缩方法。所述压缩方法包括：聚类压缩，以及聚类压缩与输入精简压缩和移位压缩的结合。所述数据解压缩装置包括：比特计数器、向量计数器、移位计数器、聚类移位寄存器、地址计数器、比较器、异或门、输入压缩寄存器、反相器。本发明提出的上述方案由于采用了聚类移位输入精简压缩方法，对难测故障的测试数据先进行输入压缩，再将输入压缩后的测试数据进行聚类压缩，最后对聚类压缩后的测试数据进行移位压缩，使得最终需要存储在内建自测试电路ROM中的存储单元减少，节省了内建自测试电路的硬件开销。 |
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