| 专利名称 | 一种适用于微通道板探测器的交叉位敏阳极以及探测系统 | 申请号 | CN201320307734.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203367216U | 公开（授权）日 | 2013.12.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 朱香平;邓国宝 | 主分类号 | H01J40/16(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J40/16(2006.01)I;H01J40/04(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I | 专利有效期 | 一种适用于微通道板探测器的交叉位敏阳极以及探测系统 至一种适用于微通道板探测器的交叉位敏阳极以及探测系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型提出一种新的适用于微通道板阳探测器的交叉位敏阳极，并以此作为核心探测部件，给出一种高性能紫外光子计数积分成像探测系统。该交叉位敏阳极，分为上、下两层，上层的各个矩形导电条经绝缘层搭接在下层的各个矩形导电条上；上层的各个矩形导电条在同一平面内相互平行，下层的各个矩形导电条在同一平面内相互平行；所述绝缘层与上层的各个矩形导电条一一对应，且分别位于对应的矩形导电条的投影范围内，在投影方向上，上层与下层的所有矩形导电条整体形成交叉网格，每个矩形导电条独立输出电荷信号。本实用新型能够实现高空间分辨率、高计数率性能，解决电极导通、减少电极串扰以及精确控制绝缘沟道的宽度难题。 |
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