| 专利名称 | 一种超声相控阵成像探伤强度标定方法 | 申请号 | CN201310399673.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103472140A | 公开（授权）日 | 2013.12.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院声学研究所 | 发明（设计）人 | 吴文焘;李平;肖灵 | 主分类号 | G01N29/30(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N29/30(2006.01)I;G01B17/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种超声相控阵成像探伤强度标定方法 至一种超声相控阵成像探伤强度标定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种超声相控阵成像探伤强度标定方法，该方法包括以下步骤：根据相控阵系统对探伤试块上的刻槽进行探测，获取扫描线回波信号；根据对扫描线回波信号进行归一化处理，获取不同角度相同深度刻槽和相同角度不同深度刻槽的回波的强度标定结果；根据不同角度相同深度刻槽和相同角度不同深度刻槽的回波的强度标定结果对相控阵超声成像结果进行标定。本发明可以完成对不同角度和不同深度表面上的刻槽进行超声像控阵成像标定，从而可以通过超声相控阵成像结果，对缺陷进行当量分析，定量评估缺陷大小，减少人员参与导致的主观检测问题，提高超声相控阵成像检测缺陷的检测率和检测效率。 |
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