| 专利名称 | 基于多狭缝阵列的超分辨光谱仪 | 申请号 | CN201310424250.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103471717A | 公开（授权）日 | 2013.12.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 郝鹏;吴一辉;迟明波;刘永顺 | 主分类号 | G01J3/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/36(2006.01)I;G01J3/04(2006.01)I | 专利有效期 | 基于多狭缝阵列的超分辨光谱仪 至基于多狭缝阵列的超分辨光谱仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 基于多狭缝阵列的超分辨光谱仪，涉及光谱分析仪器领域，解决了采用亚像元技术实现超分辨的光谱仪存在的装调工艺要求高、难度大的问题，超分辨光谱仪中的入射狭缝为N阶狭缝阵列，入射狭缝对入射光线进行空间滤波，使入射光线宽度按照光学系统要求的宽度入射到准直镜上，光线依次经过准直镜准直、光栅分光、聚焦镜聚焦后成像在光电探测器上，在垂直于光谱维方向上获得N幅具有亚像元位移的低分辨率光谱图，计算机采集光谱图信息并利用递推算法求取亚像元值构建出一幅高分辨率的光谱图，N为正整数且N≥2。本发明在不减少入射光通量的前提下提高了光谱分辨率，实现了光谱仪的光谱超分辨，光谱测量范围包括紫外—可见—近红外波段。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障