| 专利名称 | 一种同时测量高反镜S和P偏振光反射率的方法 | 申请号 | CN201310413019.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103471815A | 公开（授权）日 | 2013.12.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 李斌成;祖鸿宇;韩艳玲 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种同时测量高反镜S和P偏振光反射率的方法 至一种同时测量高反镜S和P偏振光反射率的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种同时测量高反镜对S和P偏振光反射率的方法，将光强周期性调制的连续激光注入稳定初始谐振腔，由探测器探测衰荡信号，通过双指数拟合得到初始谐振腔内S和P偏振光的衰荡时间τ0S和τ0P，计算得到腔镜S和P偏振光的平均反射率R0S和R0P；同样，在初始光学谐振腔两腔镜间根据使用角度放入待测高反镜构成测试光学谐振腔，得到测试腔S和P偏振光的衰荡时间τ1S和τ1P，计算出待测高反镜对S和P偏振光的反射率RXS和RXP。本发明优点：避免了以往测量高反镜反射率未区分S和P偏振态所引起的误差，可以应用任意偏振特性的激光器测量待测高反镜对S和P偏振光的反射率，可以不用起偏器，测量装置简单，测量精度高。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障