| 专利名称 | 一种基因芯片的金沉积检测方法 | 申请号 | CN201310451535.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103451313A | 公开（授权）日 | 2013.12.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 景奉香;贾春平;张冀申;王文涛;金庆辉;赵建龙 | 主分类号 | C12Q1/68(2006.01)I | IPC主分类号 | C12Q1/68(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基因芯片的金沉积检测方法 至一种基因芯片的金沉积检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种基因芯片的金沉积检测方法，其特征在于所述方法包括将已知的DNA序列点样到微阵列上制备基因芯片，在待测核酸的5’端预先修饰一种生物大分子，以及在纳米金上标记与待测核酸上修饰分子匹配的另一生物大分子构建纳米金复合探针，然后将修饰好的待测核酸和标记好的所述纳米金复合探针与所述基因芯片混合，孵育，洗去未反应的所述纳米金复合探针，加入双氧水金增强反应液观察。本发明提供的基因芯片的金沉积检测方法最大的特点及优点为：灵敏度高，检测方便，操作简便，耗时短，成本低，目视化检测，检测及信号读取设备依赖程度低。 |
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