| 专利名称 | 杂光系数和点源透过率复合测试方法及系统 | 申请号 | CN201310375615.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103454072A | 公开（授权）日 | 2013.12.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 薛勋;赵建科;徐亮;刘峰;赛建刚;陈永权;张洁;胡丹丹;田留德;段亚轩;高斌 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 杂光系数和点源透过率复合测试方法及系统 至杂光系数和点源透过率复合测试方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及杂光系数和点源透过率复合测试方法及系统，能够较大程度节约成本。本方法预先调试出准直反射镜在第一系统和第二系统中的位置，当测量杂光系数时，将准直反射镜移至第一系统中标记的位置；当测量点源透过率时，将同一个准直反射镜移至第二系统中标记的位置。本系统包括用于测杂光系数的第一系统以及用于测点源透过率的第二系统，第一系统与第二系统共用同一个准直反射镜。本发明创新式的使用了离轴反射镜机构，极大的节约了测试成本，通过光源系统、采集系统等的配合，实现了对大口径、长焦距相机光学部件杂散光抑制能力的准确、全面测试。 |
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