| 专利名称 | 一种验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法 | 申请号 | CN201310384768.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103439694A | 公开（授权）日 | 2013.12.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院国家天文台 | 发明（设计）人 | 李春来;苏彦;张洪波;刘建军;郑磊;李俊铎;封剑青;戴舜 | 主分类号 | G01S7/40(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/40(2006.01)I | 专利有效期 | 一种验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法 至一种验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法，该方法包括：选取地球表面接近月球表面电磁特性的位置，获取测月雷达在该位置的回波数据，得到测月雷达在该位置的冰层以及冰石混合层的最大穿透深度Dice_1+Dice_rock+Dice_2，以及测月雷达在冰层中的最小可分辨层厚Tice，并据此获得测月雷达在月球次表层的探测深度Drock和测月雷达在月壳浅层岩石中的厚度分辨率Trock。 |
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