| 专利名称 | 基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法 | 申请号 | CN201310357352.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103439348A | 公开（授权）日 | 2013.12.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 张敏;鲁华祥;来疆亮;边昳;龚国良;徐露露 | 主分类号 | G01N21/956(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/956(2006.01)I | 专利有效期 | 基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法 至基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法，包括如下步骤：步骤1：制作遥控器标准模板；步骤2：对待检测样品的图像做预处理；步骤3：对标准模板和待检测样品的图像粗配准，得到粗配准区域；步骤4：对标准模板图像进行区域标记，进行二次细配准；步骤5：对标准模板和待检测样品二次细配准后的标记区域分别进行二值化，并作差影计算；步骤6：判断待检测样品是否合格，如果待检测样品有缺陷，定位缺陷位置，如果待检测样品没有缺陷，判断为合格样品，完成检测。本发明的检测方法能有效地分割按键检测出缺陷样品，准确定位缺陷位置。 |
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