| 专利名称 | 一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法 | 申请号 | CN201310390270.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103439090A | 公开（授权）日 | 2013.12.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 汪利华;吴时彬;任戈;景洪伟;谭毅;杨伟 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法 至一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法，属于光学检测技术领域，该方法根据被检光学元件或光学系统口径和检测中的子孔径口径，计算检测所需子孔径个数以及每个子孔径坐标位置，合理安排子孔径采样顺序和运动路径。本发明可以用于子孔径拼接检测技术中，安排子孔径采样顺序和路径，并用于指导拼接时数据处理。 |
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