| 专利名称 | 光电探测器线性区间及其面响应特性测量装置 | 申请号 | CN201310371081.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103438993A | 公开（授权）日 | 2013.12.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 陆海丰;杨琳;惠宏超;郭亚晶;姜秀青 | 主分类号 | G01J1/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/24(2006.01)I | 专利有效期 | 光电探测器线性区间及其面响应特性测量装置 至光电探测器线性区间及其面响应特性测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种光电探测器线性区间及其面响应特性测量装置，包括光源、第一光阑、光功率稳定器、光功率衰减器、第二光阑、分光棱镜、第一光开关、第二光开关、第一反射镜、第二反射镜、积分球、待测光电探测器、电信号放大器、数据采集卡、计算机和恒温箱，本发明装置主要采用积分球出射光照度均匀特性，利用激光光源的线宽窄、功率稳定等优点，能够实现不同光电探测器在特定波长下的直线度和面响应均匀性的精确测量，具有方便快捷、动态范围大、抗干扰性强等优点，其重复测量精度优于0.05%。 |
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