| 专利名称 | 一种微米、亚微米级颗粒样品原位同位素元素组成自动测量方法 | 申请号 | CN201310301832.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103424464A | 公开（授权）日 | 2013.12.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 郝佳龙;张建超;林杨挺 | 主分类号 | G01N27/64(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/64(2006.01)I | 专利有效期 | 一种微米、亚微米级颗粒样品原位同位素元素组成自动测量方法 至一种微米、亚微米级颗粒样品原位同位素元素组成自动测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种微米、亚微米级颗粒样品原位同位素元素组成自动测量方法，其步骤为：颗粒样品均匀的分布在平整导电载体表面；通过移动承载样品的步进电机使得样品移动到事先已设定好坐标的目标区域。采用一次离子束逐行扫描目标区域，获得目标区域的二次离子图像。所获二次离子图像输入到二次离子图像处理装置，识别出颗粒样品的数量、位置、轮廓及强度信息。再经过颗粒序列分析装置得到每个颗粒的扫描位置、扫描区域大小、以及扫描积分时间。在每个颗粒上进行扫描轰击，获得样品二次离子。二次离子经过质谱系统，接收装置，最后由计算机算出每个颗粒的同位素比值或元素比值。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障