| 专利名称 | 一种基于非修饰单层石墨烯作为工作电极的纳米颗粒增强检测装置及其应用 | 申请号 | CN201310371092.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103424447A | 公开（授权）日 | 2013.12.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 毛红菊;金兵;张宏莲;金庆辉;赵建龙 | 主分类号 | G01N27/30(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/30(2006.01)I;G01N27/48(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于非修饰单层石墨烯作为工作电极的纳米颗粒增强检测装置及其应用 至一种基于非修饰单层石墨烯作为工作电极的纳米颗粒增强检测装置及其应用 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及检测领域，特别是涉及一种基于非修饰单层石墨烯作为工作电极的纳米颗粒增强检测装置及其应用。本发明提供一种非修饰单层石墨烯在纳米颗粒增强检测领域的应用，并进一步提供一种纳米颗粒增强检测装置、一种纳米颗粒增强检测方法及相关试剂盒。本发明所提供的纳米颗粒增强检测方法，利用非修饰的石墨烯作为工作电极，加快了电子的传导速率；利用修饰过的纳米金和磁珠来放大电流信号，提高了检测的灵敏度。 |
1、源头对接，价格透明
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