| 专利名称 | 光电探测器频率响应的测量系统 | 申请号 | CN201310254551.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103398736A | 公开（授权）日 | 2013.11.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 李明;邓晔;祝宁华;刘建国;刘宇 | 主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | 专利有效期 | 光电探测器频率响应的测量系统 至光电探测器频率响应的测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种光电探测器频率响应的测量系统，包括：一光脉冲发生器；一可编程光滤波器；一色散光纤；一待测光电探测器；一采样示波器；一计算机。该系统利用光脉冲发生器产生宽谱光脉冲信号，通过滤波整形及色散，实现波形从频域到时域的转换，形成线性啁啾光信号，该光信号包含一系列等幅但频率随时间线性变化的光脉冲，输入待测光电探测器响应后通过采样示波器即可显示出其频率响应。该系统不需要矢量网络分析仪进行频谱扫描，具有成本低、结构简单、测量速度快、测量带宽大等优点。 |
1、源头对接，价格透明
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