| 专利名称 | 光电望远镜光学系统透过率的外场测量装置及测量方法 | 申请号 | CN201310310736.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103398984A | 公开（授权）日 | 2013.11.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 乔健;韩光宇;曹立华;郭劲 | 主分类号 | G01N21/59(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/59(2006.01)I | 专利有效期 | 光电望远镜光学系统透过率的外场测量装置及测量方法 至光电望远镜光学系统透过率的外场测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 光电望远镜光学系统透过率的外场测量装置及测量方法，属于光电仪器领域，解决了现有单光束检测方法无法在外场条件下对光电望远镜光学系统的透过率有效测量的问题，该装置包括支撑架；安装在支撑架上的手动调整平台；固定在手动调整平台上的He-Ne激光器；主要由探头和输出显示装置组成的激光功率计，探头放置在He-Ne激光器的输出窗口前端，并与He-Ne激光器的激光输出光轴垂直。本发明通过激光功率计探头将He-Ne激光器激光束完全覆盖，并通过探头测量不同位置及不同输出波长下的光学系统的透过率值再取均方值从而测得透过率，实现在外场条件下对光电望远镜光学系统透过率的有效测量，方法简捷、方便，并且成本较低。 |
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