| 专利名称 | 获取正电子发射断层扫描系统响应模型与图像重建的方法 | 申请号 | CN201310345039.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103393434A | 公开（授权）日 | 2013.11.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 魏龙;贠明凯;樊馨;刘双全;张玉包;曹学香;周小林;王璐;孙翠丽;高娟;王海鹏;李默涵;章志明;黄先超 | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/03(2006.01)I;G06T11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 获取正电子发射断层扫描系统响应模型与图像重建的方法 至获取正电子发射断层扫描系统响应模型与图像重建的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种获取正电子发射断层扫描的系统响应模型及图像重建的方法及装置。一种正电子发射断层扫描的图像重建方法，包括：获取γ光子入射到晶体条阵列的深度效应响应信息；根据所述深度效应响应信息符合生成背对背的γ光子入射晶体条对时决定的响应线的深度效应响应模型；根据所述深度效应响应模型生成系统响应模型；以及，根据所述的系统响应模型进行图像重建。 |
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