| 专利名称 | 基于哈希表的存储器内建自修复系统及方法 | 申请号 | CN201210138501.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103390430A | 公开（授权）日 | 2013.11.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 郭旭峰;于芳 | 主分类号 | G11C29/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G11C29/12(2006.01)I;G11C29/18(2006.01)I | 专利有效期 | 基于哈希表的存储器内建自修复系统及方法 至基于哈希表的存储器内建自修复系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复系统，该系统包括内建自修复BIST模块和内建冗余分析BIRA模块，其中：BIST模块，用于对存储器进行测试，将检测到的故障地址暂存在BIST模块中，并向BIRA模块输出故障地址；BIRA模块，用于判断访问地址是否为故障地址，并为故障地址分配冗余资源，进行故障地址重映射，从而完成对存储器的修复。本发明同时公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复方法。利用本发明，地址比较效率高，从根本上解决了传统存储器内建自修复方法全搜索地址比较效率低，无法真正修复多故障存储器的缺点，且兼具占用面积小，功耗低的优点。 |
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